E-mail: secretary@si2012.org




Сайт создан на платформе LPS
 
  Забыли пароль?
 

Программа конференции посвящена следующим вопросам

  1. Дефекты и примеси в кристаллах и пленках Si, SiGe и Ge. Модифицикация свойств материалов под влиянием термических обработок, радиационного облучения и других воздействий
  2. Наноразмерные структуры на основе кремния: технологии получения и свойства квантово-размерных структур, скрытых и напряженных слоев; их использование для твердотельной электроники
  3. Кристаллы и пленки Si, SiGe и Ge: технологии получения и свойства поликристаллических, мультикристаллических, монокристаллических, аморфных и пористых материалов
  4. Приборные структуры на основе кремния для микро-, опто-, солнечной и силовой электроники, микромеханики и других применений
  5. Другие твердотельные структуры на подложках кремния для нано- и оптоэлектроники, спинтроники и фотоники
  6. Диагностика кремния и приборных структур на его основе